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關于國產數字源表的優(yōu)勢與具體應用說明
日期：2022-09-22瀏覽：3984次
國產數字源表是為緊密結合激勵源和測量功能，要求精密電壓源并同時進行電流與電壓測量的測試應用而設計的。所有源表均由一個精密的、低噪聲、高穩(wěn)定的帶回讀功能的直流電源和一個低噪聲、高重復性、高輸入阻抗的5位半多功能表組成，形成了緊湊的單通道直流參數測試儀。
其功能相當于電壓源、電流源、電壓表、電流表和電阻表的綜合體。通信、半導體、計算機、汽車與醫(yī)療行業(yè)的元件與模塊制造商都將發(fā)現，源表儀器對于各種特征分析與生產過程測試實用價值。
國產數字源表的優(yōu)勢：
1、多功能測量需求下的廣泛的適應性，電壓高300V，電流低至100pA；
2、實現“源”的輸出和“表”的測量同步進行，提高測試效率。
3、具備對測試器件的保護功能，可進行自我限制，避免因過充而造成的對測試器件的損害；準確的電壓電流限制功能，為器件提供完善的保護功能，避免器件損壞。
4、觸屏圖形化操作，使用簡單。開放式平臺，可根據實際應用的需求而針對性的開發(fā)軟件。
國產數字源表的應用：
分立半導體器件特性測試，電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC、GaN等器件；
能量與效率特性測試，LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉換器等；
傳感器特性測試，電阻率、霍爾效應等；
有機材料特性測試，電子墨水、印刷電子技術等；
納米材料特性測試，石墨烯、納米線等。
產品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數/電導率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試
- 電化學工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗箱
- 普源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗箱
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- 紅外熱像儀
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 美國BK PRECISION
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標準源/計量校準檢定設備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測試
- 永磁軟磁磁通量測試
- 汽車電子標準波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
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